关于MSP430的SD16模块测试问题[达人指点]

6楼 DC 于 2008-10-16 17:01:41
嗯，谢谢你的反馈。不过我有几个问题想请教一下的。
[1]你认为内部的参考电压不准，能不能说一两个例子来讲解一下。在我的理解中，430内部带的参考源在一般室温下内部参考源还算可以的。
[2]你采用外部参考源是什么芯片电路？内参考和外参考测量同样一个信号，差别有多大。
[3]你现在测量校准时用的单端还是差分输入？AD前端有没有做低通滤，如果有你的低通是如何处理？
对于SD16的模块进行测量较准是一个重要的步骤。
谢谢！
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7楼 xixi风 于 2008-10-16 20:13:41
过采样率为1024，时钟频率262144HZ，输入电压为电阻分压后输入0.5V。下表为改变基准源后的测量值：
                             
   采样次数1024                                               
 基准源选择外部       
  （1.0550V）   次数   平均值       MIN        MAX         极值
-------------------------------------------------------------------------------
                 1      62117      62113      62122      0.499988      
                 2      62116      62111      62122      0.499980      
                 3      62116      62108      62120      0.499980      
-------------------------------------------------------------------------------
   采样次数1024
 基准源选择内部
    （1.2V）    次数   平均值       MIN        MAX         极值
                 1      53973      53325      54654      0.494145      
                 2      53923      53306      54280      0.493687      
                 3      53907      53312      54267      0.49354
-------------------------------------------------------------------------------
   上面一栏为使用外部基准源的时候测量值，可以看出最大和最小值差别并不大，平均值变化也不大。下面一栏为内部基准源，最大值和最小值差别就比较大。
   使用的精密基准源为直流电位差计，各种参数都能满足需要，其输出精度如下表所示：
量程      范围      最小分辨率         准确度      
 *5       0~1.0550          50uv         ±0.05%      

不过还是有不懂的地方，在SD_16中的fm和fs具体含义是什么？还有那个过采样率大，是不是采样速度就变慢了？DC能不能帮忙解释解释！
本来是个表格的可是粘上去就变了！应该可以看的明白吧！
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8楼 DC 于 2008-10-17 02:01:07
[2]你采用外部参考源是什么芯片电路？
[3]你现在测量校准时用的单端还是差分输入？AD前端有没有做低通滤；如果有你的低通是什么电路？
你还没有回答上面问题，谢谢。

对于∑-∆类型的ADC而言，他的结构采样前端是需要对模拟信号进行高速的多次采样的，对于被测信号而言，他的采样频率是被采样信号的上百倍或更高。而每一次采样时都会与前一次采样结果进行累加，这样做的目的是为了实现统计平均值结果；同时方便后级的数字处理，如FIR滤波器及抽取样输出。而你所提及的过采样大，只是意味着也的采样次数增加。对于∑-∆-ADC内部而言只是数字处理的问题。这个采样大小一般不影响用户所关心到快慢问题。
    从上面的讲述可知，∑-∆-ADC进行过采样(这相当于一个调制器，将输入的低频信号变换成高频信号)后还需在内部进行数字低通滤波器，最后再抽取滤波器(主要将刚高采样调制的高数码流信号进行抽样输出，这样的最终目的实现将高码流变为低码输出给MCU)输出数字信号。这里我讲述的大概是，∑-∆-ADC的其中一部分原理。最后告诉你的是过采样率大小是∑-∆-ADC内部的事，与用户所关注的代码结果关系并不大。
   ∑-∆-ADC原理相对于SAR-ADC原理复杂很多，他更多是数化的处理。有趣兴不防找找TI的这方面的资料看看(这里头有点深奥)。
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9楼 xixi风 于 2008-10-17 13:58:33
呵呵！谢谢版主了！
外部的基准源采用的直流电位差计，上面的贴上后面的为其技术参数！
采用的差分输入，AD前端没有做滤波，是直接接上去的。
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10楼 DC 于 2008-10-17 14:40:14
在这样的测量时，你应该在差分输入两端分别增加RC低通。有过滤掉部分高频噪声，这样做对∑-∆-ADC采样和结果输出有利。本身∑-∆-ADC的分辨率就较高，如果不加滤波器的话测量出来的代码一至性就显得较差了。很简单的就是你的信号的部分噪声可能来自电源源处，处理不当会带来误测或不准确的测评效果。所以建议你采用电池组供电作为测试是一个好的技巧手段。
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11楼 xixi风 于 2008-10-17 15:19:46
还有一个问题，就是它的输入口是正和负，双端输入，是不是说它的内部没有反馈端。
还由它的那个增益是个什么意思！仅仅是对其输入信号的最大值的确定吗？还是有其他的
意思！
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